DOIT学院
芯片
刘政林
华中科技大学光学与电子信息学院教授，研究方向包括数字IC设计、硬件安全、车联网安全、NVM测试等。
性能测试
阳小珊
国家计算机质检中心存储测评实验室 主任，高级工程师
存储系统
张晓
西北工业大学计算机学院副教授，CCF信息存储专委会常务委员，研究方向包括存储系统设计与优化，海量存储系统测试与仿真，大数据存储与管理。发表论文100余篇，授权发明专利5项。
性能测试
蒋伸亿
在测试和验证各类存储产品，如DAS，SAN，NAS，JBOD，SSD，LUN和OS认可的Logical Storage等方面拥有10年以上的经验。作为技术支持经理，他经历了各种存储接口协议之间的存储性能测试和验证，积累了相当丰富且直实的存储技术经验。
性能测试
吴非
华中科技大学研究员、博导
闪存
吴晨涛
上海交通大学教授、博士生导师，美国弗吉尼亚联邦（州立）大学博士，CCF存储专委会常务委员，荣获2019年国家技术发明二等奖等奖励。
闪存
陆游游
清华大学计算机系特别研究员、博导。CCF优博获得者，入选首届中国科协青托工程，获ACM中国操作系统新星奖等。
闪存
石亮
华东师范大学教授，博士生导师
闪存系统
李永坤
中科大副教授，中科院青促会会员，仲英青年学者。致力于面向数据计算的存储系统研究，共发表论文60余篇。
