嘉宾介绍

刘政林

华中科技大学光学与电子信息学院教授,研究方向包括数字IC设计、硬件安全、车联网安全、NVM测试等。

主题介绍

演讲概要

介绍大规模闪存芯片可靠性实验过程中发现的失效现象,分析该现象的特征并提出了对应的预防方案。

内容亮点

闪存芯片可靠性;芯片失效;大规模测试;存储失效预防;存储寿命延长

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