嘉宾介绍
刘政林
华中科技大学光学与电子信息学院教授，研究方向包括数字IC设计、硬件安全、车联网安全、NVM测试等。
主题介绍
演讲概要
介绍大规模闪存芯片可靠性实验过程中发现的失效现象，分析该现象的特征并提出了对应的预防方案。
内容亮点
闪存芯片可靠性；芯片失效；大规模测试；存储失效预防；存储寿命延长
刘政林
华中科技大学光学与电子信息学院教授，研究方向包括数字IC设计、硬件安全、车联网安全、NVM测试等。
演讲概要
介绍大规模闪存芯片可靠性实验过程中发现的失效现象，分析该现象的特征并提出了对应的预防方案。
内容亮点
闪存芯片可靠性；芯片失效；大规模测试；存储失效预防；存储寿命延长
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