嘉宾介绍

廖安仁

华澜微 技术市场副总裁

主题介绍

闪存进入3D时代之后的变革越来越快,如何在存储控制器的设计时就能够考虑好产品应用的高可靠性,有哪些重點是在芯片設計端就需要考慮的?从控制器到模块的过程中,如何通过系統硬件设计保证产品的可靠,如何设计存储模块测试流程,使得测试模式更加全面有效,并能够和控制器设计进行有效配合,是未来保证模块可靠性的前提条件。

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